Сканирующая электронная микроскопия

05.06.2015

Сканирующая электронная микроскопия получила широкое распространение для изучения полимерных поверхностей, заменив во многих случаях метод реплик. Поверхность, подлежащая исследованию, подготавливается обычным методом с помощью микротомирования, абразивной полировки или скалывания, но дальнейшая ее обработка упрощается. На поверхность наносится в вакууме тонкий слой золота (20 нм) или другого подходящего металла для предотвращения ее зарядки электронным пучком, и образец помещается в микроскоп. Эта методика исключает трудности, присущие методу реплик, такие, как снятие полимерной пленки и удаление остаточного полимера из углеродного слоя.
На рис. 3.2. сопоставлены микрофотография, полученная на сканирующем электронном микроскопе, и микрофотография реплики и среза для одного и того же образца УПС. В первом случае очевиден эффект трехмерного изображения. Опубликованная работа по структуре ударопрочных пластиков, использующая этот метод, была выполнена главным образом на поверхностях скола. Салтон с соавторами наблюдали распределение по размеру и внутреннюю структуру частиц каучука в эпоксидных смолах посредством фрактографии. Аналогичное исследование было выполнено Вилльмоутом и Хеггсом на ударопрочном полипропилене. Последние авторы провели контрольное сравнение фрактографий ударопрочного и немодифицированного полимеров и показали, что только модифицированный каучуком материал содержит на поверхности скола полусферические углубления диаметром около 1 мкм.